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梅特勒天平作為實驗室常用基礎儀器，其作用主要是稱量物體質量，想要實驗結果更加準確可靠，實驗中樣品的量必須準確。為了保證實驗結果的準確性，必須保證梅特勒電子天平測量的準確度，在使用前或測量環境改變后都要進行校準操作。下面，我們就來看看梅特勒電子天平如何校準。

   梅特勒電子天平有內校和外校兩種校準方式。

 1.  內(nei)校(xiao)：內(nei)校(xiao)型(xing)梅(mei)特(te)勒天平(ping)使(shi)用方便，但價格稍(shao)高。校(xiao)準時只需長按CAL鍵就可(ke)以完成校(xiao)準過(guo)程。內(nei)校(xiao)型(xing)電子天平(ping)如梅(mei)特(te)勒型(xing)分析天平(ping)（AB-S/FACT系列），如圖1.

        特勒型分析天平（AB-S/FACT系列）
 2. 外(wai)校：外(wai)校型梅特(te)勒天(tian)平對砝(fa)(fa)碼(ma)(ma)要求較(jiao)高，砝(fa)(fa)碼(ma)(ma)有灰塵、磨損時(shi)都會對校準結果(guo)產生影(ying)響(xiang)。校準時(shi)先按CAL鍵，直(zhi)到顯示(shi)屏(ping)上顯示(shi)CAL-,再把標(biao)準砝(fa)(fa)碼(ma)(ma)放入天(tian)平秤盤上，完(wan)成校準過程。例如(ru)，顯示(shi)屏(ping)出(chu)(chu)現CAL-100時(shi)，把 100g標(biao)準砝(fa)(fa)碼(ma)(ma)放入稱盤，隨(sui)后顯示(shi)屏(ping)出(chu)(chu)現“----”等待狀態(tai)，當顯示(shi)屏(ping)出(chu)(chu)現100.000g時(shi)，取走標(biao)準砝(fa)(fa)碼(ma)(ma)，此(ci)時(shi)顯示(shi)屏(ping)應顯示(shi)0.000g,若讀數 不為零(ling)，則清零(ling)后再次進行校準操作以完(wan)成校準過程。外(wai)校型梅特(te)勒天(tian)平如(ru)梅特(te)勒XP超(chao)越系(xi)列分析(xi)天(tian)平，如(ru)圖2.

          梅特勒XP超越系列分析天平
    需要(yao)注意的是，梅特(te)勒(le)電子(zi)天平(ping)的準確度(du)和內校、外校沒有直接的關系，還應(ying)綜(zong)合(he)考慮其它技術指標來選購合(he)適的梅特(te)勒(le)電子(zi)天平(ping)。