梅特勒電子分析天平屬于精(jing)密(mi)電子儀器(qi)，因此我(wo)(wo)們在使(shi)(shi)用的(de)過程中要(yao)掌握正確的(de)使(shi)(shi)用方法，操作不當往(wang)(wang)往(wang)(wang)會(hui)產生一(yi)些問(wen)題，那么我(wo)(wo)們該如(ru)何解決這些問(wen)題呢？下(xia)面我(wo)(wo)們就一(yi)起(qi)來了解一(yi)下(xia)。
梅特勒電子分析天平的故障及其處理方法：
1、稱(cheng)量不(bu)準確的故障分析
觀(guan)測內碼值是(shi)(shi)否(fou)(fou)(fou)穩(wen)(wen)定(ding)(ding)，傳感(gan)器(qi)各部位是(shi)(shi)否(fou)(fou)(fou)有摩擦現象，穩(wen)(wen)壓電源(yuan)是(shi)(shi)否(fou)(fou)(fou)穩(wen)(wen)定(ding)(ding)，運放電路是(shi)(shi)否(fou)(fou)(fou)正常(chang)，使用(yong)砝碼測試秤盤(pan)四腳秤量是(shi)(shi)否(fou)(fou)(fou)平均。依照說明書指示，進一步做(zuo)儀表局部分析或重量校正。
2、稱重物移除后無法回到零點的故障分析
檢查(cha)傳(chuan)(chuan)感器(qi)輸(shu)出信號值是(shi)否于標準(zhun)內(nei)(nei)(A/D的總(zong)放大碼/使用(yong)內(nei)(nei)碼范圍/底碼范圍)，如(ru)果(guo)信號值未在標準(zhun)內(nei)(nei)，調(diao)節(jie)傳(chuan)(chuan)感 器(qi)可調(diao)電阻，將信號值調(diao)到標準(zhun)內(nei)(nei)，如(ru)無法補償請檢查(cha)傳(chuan)(chuan)感器(qi)是(shi)否有問(wen)題(ti)，在保證傳(chuan)(chuan)感器(qi)輸(shu)出正常(秤體穩(wen)定)情況下，鎖定儀(yi)表故(gu)障，一般是(shi)放大電路(lu)及A/D轉(zhuan) 換電路(lu)發生(sheng)問(wen)題(ti)，再(zai)依據電路(lu)原理逐一判斷測試分析，以zui終解決(jue)問(wen)題(ti)。
3、梅特勒電子分析天平無法開機的故障
先確定非保險(xian)絲(si)、電(dian)源開(kai)關、電(dian)源線及(ji)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)切換開(kai)關的問題(ti)所造成，檢(jian)查變(bian)壓(ya)(ya)(ya)器(qi)有無交(jiao)流電(dian)壓(ya)(ya)(ya)輸(shu)(shu)入(ru)及(ji)交(jiao)流電(dian)輸(shu)(shu)出。如果(guo)儀表 帶(dai)有電(dian)池將電(dian)池取下再以(yi)AC電(dian)源開(kai)機，以(yi)了解是(shi)否(fou)為電(dian)池電(dian)壓(ya)(ya)(ya)不足所造成。其次再檢(jian)測整流電(dian)路、穩壓(ya)(ya)(ya)電(dian)路以(yi)及(ji)顯示驅動電(dian)路是(shi)否(fou)出現異常，如果(guo)這(zhe)些(xie)都沒問題(ti)檢(jian) 查處理(li)器(qi)及(ji)附(fu)屬電(dian)路是(shi)否(fou)燒壞。
4、梅特勒電子分析天平顯示亂碼(ma)
將(jiang)原來的顯(xian)示(shi)電(dian)路拆下，換一(yi)個正常(chang)的顯(xian)示(shi)電(dian)路看是(shi)否正常(chang)。如果(guo)顯(xian)示(shi)正常(chang)說明顯(xian)示(shi)電(dian)路出(chu)現問題，如果(guo)不正常(chang)，應檢(jian)(jian)查(cha)驅動電(dian)路是(shi)否有故障，zui后檢(jian)(jian)查(cha)處理(li)(li)器顯(xian)示(shi)輸出(chu)的引腳(jiao)是(shi)否在(zai)合理(li)(li)的輸出(chu)范圍。
5、梅特勒電子分析天平按鍵不好用(yong)
先更(geng)換新按(an)鍵(jian)(jian)(jian)進行(xing)測試，如新按(an)鍵(jian)(jian)(jian)功能(neng)正(zheng)常(chang)時，則(ze)可判定為按(an)鍵(jian)(jian)(jian)接觸(chu)不(bu)良，測量按(an)鍵(jian)(jian)(jian)與CPU之(zhi)間線路有無斷(duan)路、虛焊。檢查按(an)鍵(jian)(jian)(jian)支座是否有接觸(chu)不(bu)良現象。測量按(an)鍵(jian)(jian)(jian)與CPU回路上的二極(ji)管(guan)、電阻等是否有短路、斷(duan)路的情況(kuang)。
6、梅特勒電子分析天平無法稱到(dao)滿載
和無(wu)法(fa)回零的情況(kuang)差不多，多數可能由于小信號輸入范(fan)圍(wei)發生(sheng)了改變(bian)。按照無(wu)法(fa)回零的方法(fa)檢(jian)(jian)測，如果找不出(chu)問題，就先檢(jian)(jian)測供電(dian)電(dian)源、A/D電(dian)路是否正(zheng)常，再檢(jian)(jian)測傳感器輸出(chu)。
7、梅特勒電子分析天平指針跳動
當橫梁(liang)被托起時(shi)，如支點刀的刀口與刀墊間(jian)前后距離(li)不等，則(ze)開啟梅特勒電子分析天平時，會產生指(zhi)針跳動(dong)，可把橫(heng)托架左(zuo)臂前的(de)螺絲放松，然后用(yong)手捻(nian)調節小支柱的(de)高度，直至指(zhi)針不再跳動(dong)。
8、梅特勒電子分析天平開機(ji)自(zi)檢無法通過，出(chu)現下(xia)列(lie)故障代碼(ma)
“EC1”：CPU損(sun)壞
“EC2”：鍵盤錯(cuo)誤
“EC3”：天平(ping)存儲數據丟失
“EC4”：采樣模塊沒有(you)啟動(dong)
原因：致命錯誤(wu)造(zao)成天平不能正(zheng)常(chang)工作
解(jie)決方法(fa)： 請將(jiang)天平送廠家修理
9、故(gu)障現象：梅特勒電子分析天平顯示“L”
原因：
1)沒有安放秤盤
2)秤盤下面(mian)有異物
3)氣流罩與秤盤碰(peng)在一起
梅特勒電子分析天平解(jie)決方法：
1)將秤盤安置在(zai)秤盤座上
2)輕輕拿(na)起秤盤檢查是(shi)否有異物在秤盤下(xia)，拿(na)走異物
3)輕(qing)輕(qing)轉動秤盤或氣(qi)流罩查看是否有碰(peng)的現象，調(diao)整氣(qi)流罩的位置(zhi)
10、故障現象：加(jia)載(zai)梅特勒電子分析天平顯(xian)示(shi)“H”
原因：
1)秤盤上加載物體過重，超出zui大量程(cheng)
2)曾用小于校準砝碼(ma)值的(de)砝碼(ma)或其它物體校準過天(tian)平，導致(zhi)放上(shang)正(zheng)常(chang)量程內的(de)重量顯示超重。
解決方法：
1)只在(zai)量程范圍內稱量
2)用(yong)正確的砝碼重新進(jin)行校(xiao)準。
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