在超越(yue)系列(lie)(lie)XP/XS分析天平分析天平市場10年之際,梅特(te)勒-托利(li)多于2014年推(tui)出新(xin)超越(yue)系列(lie)(lie)XPE/XSE新(xin)一代分析天平,將稱量(liang)智能化推(tui)向了*的高度!

梅特勒XSE 分析天平將稱(cheng)(cheng)量(liang)與(yu)眾多智(zhi)能(neng)特性相結合(he)，讓您的(de)日常稱(cheng)(cheng)量(liang)任務變(bian)得準確無誤。您不僅可以體驗到(dao)新超越系列分析天平提供(gong)的(de)稱(cheng)(cheng)量(liang)性能(neng)，更可以確保全面的(de)法規*性，以及至(zhi)高的(de)過程安(an)全性。

儀器無憂——我明白稱(cheng)量很安全！

全(quan)新智能(neng)(neng)安全(quan)工具可監(jian)控天(tian)平的狀態(tai)，以確保安全(quan)地開始稱量(liang)任(ren)務。創新的狀態(tai)指示燈(StatusLight)讓您只需看一眼即可了解(jie)稱量(liang)是(shi)否(fou)開啟(qi)綠(lv)燈：執(zhi)行了的天(tian)平校準(zhun)和日常測試，天(tian)平處于水平狀態(tai)且性能(neng)(neng)正常。

樣品無憂——再(zai)也(ye)不受靜電問題困(kun)擾！

靜電(dian)(dian)是分析稱量(liang)過程面臨的主要挑(tiao)戰(zhan)。正常操作時(shi)，容器(qi)和(he)樣(yang)(yang)品很容易(yi)吸附靜電(dian)(dian)荷，從而導致(zhi)稱量(liang)誤差。電(dian)(dian)荷也可使(shi)粉末狀顆粒(li)飄散，這在處理昂(ang)貴或有毒物(wu)質(zhi)時(shi)容易(yi)造(zao)成額外的問題(ti)。新超越系(xi)列天平的智能(neng)靜電(dian)(dian)檢(jian)測和(he)去靜電(dian)(dian)解決(jue)方案可避免(mian)稱量(liang)誤差，并使(shi)樣(yang)(yang)品處理更加簡單(dan)安(an)全。

過程無憂——減少錯誤的又一里程碑(bei)！

梅特勒-托利多的(de)(de)LabX軟件可(ke)顯著提(ti)升實(shi)驗(yan)室(shi)的(de)(de)影響力，是(shi)保證過(guo)程(cheng)安全性(xing)和(he)管理(li)稱量不確定(ding)性(xing)的(de)(de)*解(jie)決方案。LabX在提(ti)供(gong)基于天(tian)平觸摸屏的(de)(de)靈活(huo)的(de)(de)SOP用戶向導方面(mian)*。自動數據處理(li)、計算和(he)生成報告意(yi)味著再也不需要通過(guo)手工(gong)記錄，避免(mian)了(le)抄錄誤差并(bing)確保了(le)*可(ke)追(zhui)溯(su)性(xing)。新超越系(xi)列天(tian)平輕松地滿足至高過(guo)程(cheng)安全要求，并(bing)幫助您建立無(wu)紙化實(shi)驗(yan)室(shi)。

狀態指示燈

狀態指示(shi)(shi)燈(deng)清(qing)晰地顯示(shi)(shi)天平(ping)是否已(yi)準(zhun)備好開始(shi)稱量(liang)任(ren)務。綠色表(biao)示(shi)(shi)天平(ping)準(zhun)備運行，黃(huang)色表(biao)示(shi)(shi)天平(ping)通過TestManager連接至日常測試，紅色表(biao)示(shi)(shi)對天平(ping)失(shi)去平(ping)衡(heng)等錯誤立即采取糾正(zheng)措施。

使(shi)用天(tian)平觸摸屏(ping)，可在Test-Manager嵌入式軟件中進行SOP測(ce)試。無論(lun)何時(shi)進行測(ce)試，都會在屏(ping)幕上(shang)顯示消息，您(nin)只需遵(zun)循隨附(fu)的測(ce)試說(shuo)明即可。

*稱量結果

除了稱(cheng)(cheng)量(liang)舒(shu)適度外(wai)，獲(huo)得的測(ce)量(liang)技(ji)術(shu)還在發揮(hui)著(zhu)幕后作用，為(wei)您提供zui高的分辨率(lv)、zui為(wei)快(kuai)速和zui可(ke)靠(kao)的結果以及zui低的zui小稱(cheng)(cheng)量(liang)值（僅14mg）！

梅特勒XSE 分析天平采用*的(de)設計，將(jiang)稱(cheng)重傳感(gan)器(qi)和電子元件安裝(zhuang)在天平(ping)的(de)背部。 您可(ke)獲得的(de)利益：不(bu)受散熱影(ying)響且(qie)易于(yu)清潔，因此可(ke)獲得更好的(de)稱(cheng)量(liang)性能。 獲得的(de)設計具備(bei)以下關鍵(jian)特征：

• SmartGrid技術能夠以zui快速、清潔的方(fang)式完成稱量(liang)任務

• 內部溫度控制(ITC)裝置無需單或外部電(dian)子元件(jian)即可確保獲得zui小稱(cheng)量(liang)值。

• proFACT 版(ban)本確(que)保準確(que)性和溫度穩定性并符(fu)合內部測試規定

良好(hao)的稱(cheng)量規范

新型XSE和(he)XPE分析天(tian)平依照GWP研發(fa)(fa)而(er)成。 梅(mei)特(te)勒-托利多開發(fa)(fa)出GWP(Good Weighing Practice)，作(zuo)為安全選擇(ze)(ze)、校準(zhun)和(he)操作(zuo)稱重(zhong)設備的(de)標準(zhun)化科學方法(fa)。GWP提供的(de)可(ke)再現性(xing)稱重(zhong)結果(guo)書(shu)面憑(ping)證符合當前所有實驗室和(he)制(zhi)造業的(de)質(zhi)(zhi)量標準(zhun)。 關注(zhu)穩定的(de)過程、*的(de)產(chan)品質(zhi)(zhi)量、精益(yi)制(zhi)造或(huo)遵(zun)守法(fa)規的(de)用戶可(ke)使(shi)用GWP作(zuo)為選擇(ze)(ze)和(he)校準(zhun)其(qi)稱重(zhong)設備的(de)基(ji)準(zhun)。

清潔、安(an)全

• SmartGrid網格稱盤：所有溢(yi)出(chu)的樣品都(dou)可通過秤盤落下(xia)(xia)，而不會影響您的稱量(liang)結果，下(xia)(xia)方(fang)的滴盤可輕松地捕獲溢(yi)漏的任何固體(ti)和(he)液體(ti)，以便安全處理。

• 防風罩：zui大限度降低樣品(pin)污染風險：防風罩(zhao)和滴(di)盤(pan)無需(xu)工具即可(ke)在數秒鐘內*拆卸。

• 可在(zai)洗碗機中安全清洗：所(suo)有部件均可在(zai)洗碗機(ji)中方便、*地清潔。

技術參數