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梅特勒XSE 分析天平

梅特勒XSE 分析天平

產品時間:2022-06-09

簡要描述:

梅特勒XSE 分析天平提供非常出色的稱量性能和質量保證以及的人體工程學設計, 它們是多個工作場所的*解決方案。
創新的狀態指示燈™ 可免除您在稱量方面的擔憂。 清晰可見的綠燈讓您知道何時可以安全開始稱量,所有的測試都始終保持,天平水平且功能正常。
XSE 天平具有各種選件和多個通訊接口,適用于不同的稱量應用。
瑞士設計與制造,出(chu)色的質量值(zhi)得您(nin)信賴。

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免費咨詢:021-60732559

發郵件給我們:hb@yunuolab.com

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在超越(yue)系列XP/XS分(fen)析(xi)天平分(fen)析(xi)天平市場(chang)10年之際,梅特勒-托(tuo)利多于2014年推(tui)出新超越(yue)系列XPE/XSE新一代分(fen)析(xi)天平,將稱量智能化推(tui)向了*的高度!

梅特勒XSE 分析天平將稱量與眾多智能特(te)性相結合,讓您(nin)的日常稱量任(ren)務變得準確無(wu)誤(wu)。您(nin)不僅可(ke)以(yi)體驗(yan)到新超越系列(lie)分析天平提供的稱量性能,更可(ke)以(yi)確保全面的法(fa)規*性,以(yi)及至(zhi)高的過(guo)程(cheng)安全性。

 

 

儀器無憂(you)——我(wo)明白稱量很(hen)安(an)全!

 

全新智能安全工具可監控天(tian)平(ping)的狀態(tai),以確(que)保安全地(di)開始稱量任務。創新的狀態(tai)指(zhi)示燈(StatusLight)讓(rang)您只需(xu)看一眼即可了解稱量是(shi)否開啟綠燈:執行了的天(tian)平(ping)校準(zhun)和日(ri)常測試,天(tian)平(ping)處于水平(ping)狀態(tai)且(qie)性能正常。

 

樣(yang)品無(wu)憂——再也不受靜電問題(ti)困(kun)擾(rao)!

 

靜(jing)(jing)電是分析(xi)稱量過程面臨的(de)主要挑(tiao)戰。正(zheng)常操(cao)作時,容(rong)器和樣品(pin)很容(rong)易吸附靜(jing)(jing)電荷,從而導致稱量誤(wu)(wu)差。電荷也可(ke)使粉末狀顆粒飄(piao)散(san),這(zhe)在處(chu)理昂貴或有毒物質(zhi)時容(rong)易造(zao)成額外的(de)問題(ti)。新(xin)超越系列天平的(de)智(zhi)能靜(jing)(jing)電檢(jian)測(ce)和去靜(jing)(jing)電解(jie)決方案可(ke)避(bi)免稱量誤(wu)(wu)差,并使樣品(pin)處(chu)理更加(jia)簡單安全。

 

過程無憂——減少錯誤的(de)又一里(li)程碑!

 

梅特勒-托利(li)多的(de)(de)(de)LabX軟件(jian)可顯著提升實驗(yan)室的(de)(de)(de)影響(xiang)力(li),是保(bao)證(zheng)過(guo)(guo)程安(an)全性和(he)管理稱量不(bu)確定(ding)性的(de)(de)(de)*解決方(fang)(fang)案。LabX在提供基于天平觸摸屏的(de)(de)(de)靈活的(de)(de)(de)SOP用戶向導方(fang)(fang)面*。自(zi)動數據(ju)處理、計(ji)算和(he)生成(cheng)報告意味著再也不(bu)需(xu)要(yao)通過(guo)(guo)手工記(ji)錄(lu),避免了(le)抄(chao)錄(lu)誤差并確保(bao)了(le)*可追溯性。新(xin)超越(yue)系列天平輕松地滿(man)足至(zhi)高過(guo)(guo)程安(an)全要(yao)求,并幫助您建立無紙化實驗(yan)室。

 

狀(zhuang)態指(zhi)示燈

狀態指示(shi)燈清晰地顯(xian)示(shi)天平(ping)(ping)是否(fou)已(yi)準(zhun)備好開始稱(cheng)量任務。綠(lv)色(se)表示(shi)天平(ping)(ping)準(zhun)備運行,黃色(se)表示(shi)天平(ping)(ping)通過TestManager連接至日常測(ce)試,紅色(se)表示(shi)對天平(ping)(ping)失去平(ping)(ping)衡等(deng)錯誤立即采(cai)取糾正措施。

 

使用天平觸摸屏,可在Test-Manager嵌入式軟件中進行SOP測試。無論何時進行測試,都會在屏幕上顯示消息(xi),您(nin)只需遵循隨(sui)附的(de)測試說明即可。

 

*稱量結果

除了稱量(liang)舒適度外,獲得的(de)測量(liang)技術還(huan)在發揮著幕后作用,為您提(ti)供zui高的(de)分(fen)辨率(lv)、zui為快速和zui可(ke)靠的(de)結果以及zui低的(de)zui小(xiao)稱量(liang)值(僅14mg)!

 

梅特勒XSE 分析天平采(cai)用*的設(she)計,將稱(cheng)重傳感器和電子元件安裝在天平的背部。 您(nin)可獲(huo)得(de)(de)的利益:不受散熱影(ying)響且易于清潔,因(yin)此可獲(huo)得(de)(de)更好的稱(cheng)量(liang)性能。 獲(huo)得(de)(de)的設(she)計具備以下(xia)關(guan)鍵特征:

  • SmartGrid技術能夠以zui快速(su)、清潔的方式完(wan)成(cheng)稱量任務(wu)

  • 內部溫(wen)度(du)控(kong)制(ITC)裝置無需單或外部電子(zi)元件即可確保獲得zui小稱量(liang)值(zhi)。

  • proFACT 版本確(que)保準(zhun)確(que)性(xing)和溫度穩定(ding)性(xing)并符合內部測試(shi)規定(ding)

 

良好的稱(cheng)量規范

新型XSE和XPE分(fen)析天平依照GWP研發而成。 梅特勒-托利多開發出GWP(Good Weighing Practice),作為(wei)安全選擇、校準和操作稱(cheng)重設(she)備(bei)的(de)標準化(hua)科學方法(fa)。GWP提供(gong)的(de)可再現性稱(cheng)重結果書面(mian)憑證符(fu)合當前(qian)所有實(shi)驗室和制造業的(de)質量標準。 關注穩定(ding)的(de)過程、*的(de)產品質量、精(jing)益制造或遵(zun)守法(fa)規的(de)用(yong)戶可使(shi)用(yong)GWP作為(wei)選擇和校準其(qi)稱(cheng)重設(she)備(bei)的(de)基準。

 

 

清潔、安(an)全(quan)

 

  • SmartGrid網(wang)格稱(cheng)盤所有溢(yi)出的樣品都可通過(guo)秤盤(pan)(pan)落下,而不會影響(xiang)您(nin)的稱量結果,下方(fang)的滴(di)盤(pan)(pan)可輕松地(di)捕獲溢(yi)漏的任(ren)何固(gu)體和液體,以便(bian)安全(quan)處理。

  • 防風罩zui大(da)限(xian)度降低樣品污染風(feng)險:防風(feng)罩和滴盤無需工具即可在數秒鐘內*拆(chai)卸。

  • 可(ke)在洗碗機中安全清(qing)洗所有部件(jian)均可在洗碗機中方便、*地清潔。

 

技術參數

 

 

 

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