、操作簡便(bian)、性能可靠、經(jing)久耐用——這是對梅(mei)特勒型(xing)分(fen)析天平(AB-S/FACT系列(lie))Z恰當的評價(jia)。
、操作簡便、性能可靠、經久(jiu)耐用——這是(shi)對梅(mei)(mei)特(te)勒-托利多梅(mei)(mei)特(te)勒基礎型分析天平(AB-L系(xi)列)Z恰當的(de)評價。
梅特勒XP超越系(xi)列分析天(tian)平是分析天(tian)平領域中(zhong)的又一里程碑。顛覆性的創新設計(ji)帶來了*的稱量(liang)性能并為操作者、樣(yang)品稱量(liang)和(he)數據管理的安全性設立了新的標準(zhun)。